Ispezione in tempo reale per l’industria dei biscotti: macchine a supporto vettoriale

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Per l’industria dei prodotti da forno come i biscotti l’ispezione in tempo reale è fondamentale per ragioni di standardizzazione della qualità del prodotto. Tra i diversi parametri da monitorare il colore è uno dei principali dal momento che costituisce un indice diretto della presenza di eventuali difetti. In uno studio recente, effettuato da un gruppo di ricercatori internazionali (Nashat et al., 2011), viene proposto un metodo intelligente, basato sull’utilizzo di macchine a supporto vettoriale (SVM), per determinare le caratteristiche colorimetriche dei biscotti durante la loro movimentazione sui nastri trasportatori. In particolare, l’obiettivo dello strumento è quello di classificare il prodotto in una delle seguenti quattro categorie: prodotto poco cotto, prodotto cotto in modo moderato, prodotto troppo cotto e prodotto decisamente troppo cotto. L’accuratezza del sistema proposto è stata confrontata con quella dell’analisi discriminante standard, basata sull’impiego di classificazioni dirette e multi-step. Per implementare in tempo reale il classificatore SVM è stato necessario utilizzare un processore multi-core con algoritmi avanzati. Lo studio evidenzia che il sistema proposto è in grado di classificare con un’efficienza del 96% biscotti sia in posizione stazionaria, sia in movimento (ad una velocità pari a 9 m/min). È stato, inoltre, osservato che i biscotti che si toccano tra di loro sul nastro trasportatore non presentano una qualità di cottura significativamente differente da quella dei campioni ben distanziati tra di loro. Tuttavia, il tempo di processo delle immagini dei prodotti a contatto (36 ms) è decisamente più lento rispetto a quello delle immagini dei prodotti non a contatto (9 ms). Ciò è dovuto alla complessità dell’algoritmo utilizzato per segmentare tali immagini. Concludendo, gli autori evidenziano che lo strumento proposto può essere utilizzato con successo per soddisfare le esigenze del controllo qualità in impianti con elevati volumi di produzione.

Riferimenti bibliografici

S. Nashat et al., Computers and Electronics in Agriculture, 75, 2011, 147-158

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